x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
元素含量分析范围:ppm—(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
产品功能:
1.具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换,即可向配料系统传送分析数据,也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量。
2.具有技术的,快速,安全,性能可靠而实用的样品装卸系统
3.摇臂式设计的样品装卸系统,完善的粉末保护方式,预真空室和限定位置机构,实现高度重现性,无故障,快速稳定。1000W光路设计示意图,
**薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
X荧光光谱仪测试方法及结果
经上述控制方案的设计后,按照《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的要求对各器件切换的精密度进行了检定。精密度以20次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变晶体、准直器和滤波片的位置条件。
RSD计算方法如下:
顺序式公式1.jpg(1)
顺序式公式2.jpg(2)
顺序式公式3.jpg(3)
顺序式公式4.jpg(4)
式中:
Ii——i次测量的计数率;
T——测量的时间;
n——测量的次数;
顺序式公式5.jpg——n次测量的平均计数;
S——n次测量的标准偏差。
连续20次测量中,如有数据**出平均值±3S,实验应重做。
通过不做任何变化的计数涨落试验、准直器重现性试验、晶体重现性试验和滤光片重现性试验分别测量时间10s,交替测量20次并记录与涨落试验同条件的CuKα的计数率值。后与国标**的结果和其他同类仪器的性能对比如表1所示。
技术性能及指标:
元素分析范围从钠(Na)到铀(U);
元素含量分析范围为1PPm到;
测量时间:100-300秒(可调);
RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl)其检测限度达1PPM;
能量分辨率为129±5电子伏特;
温度适应范围为15℃至30℃;
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源);
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我们公司主要供应手持式光谱仪,rohs检测仪器,X荧光光谱仪等产品,我们的产品货真价实,性能可靠,欢迎电话咨询!