苏州国产x射线荧光光谱仪厂家

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现**高计数率，保证采集有效计数率**过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换*关闭高压，提高测试效率与测试精度

X射线荧光分析技术的新突析
利用摩擦效应，将不再需要传统X射线荧光分析中的高压电源和支撑配件。一个电动马达、电池、开关、微控制器以及一个低压连接器即可代替传统高压电源体系中所需要用到的逆变器、变压器和控制系统等。由于不再需要对灯丝进行加热，因此并不存在热循环过程。同样，也不再需要用于连接高压电源和X射线源之间的电缆或者其他连接；除此之外的一些子系统都保持不变。
新突破的另一方面体现在现在能够使用基于安卓系统的智能手机提供计算功能，例如使用Nexus 5智能手机，甚至有使用更为安全的linux操作系统的手持光谱仪比如日立的X-MET8000；新的智能科技加上令人熟悉的用户界面使得它成为了一种更为强大的数据分析工具，同时能为用户提供更为详细的细节信息。彩色触摸屏能够使用户根据需要显示相关的信息；另一个重要因素在于智能手机能够通过WIFI与外界环境进行交流沟通，甚至是根据需求搜寻之前的数据等。新型智能手机技术的使用也有利于创建一个更为成熟的通讯环境，使得用户能够更加安全、可靠的通过云存储技术存储和检索成千上万的检测结果。总结X射线荧光光谱分析技术属于一种能够实现快速分析的无损检测技术，新型、成本更低的X射线光谱仪更容易在被检测材料或者组件的整个生命周期内进行多元测量和验证。利用摩擦效应产生X射线的低成本、移动型X射线荧光光谱仪将会和原位检测或者实验室检测实现互补。对于质量管理部门、冶金实验室、机械工厂、金属加工厂、电焊工以及所有关注金属产品质量的部门或者人员而言，结合了摩擦电效应的X射线荧光分析技术为他们提供了一套成本低廉且结果准确、可靠的“保险”体系。对于航空航天、、汽车以及制造业等领域，利用摩擦电效应的X射线荧光分析技术将会是他们未来长期的选择。

粉末压片制样法主要分三步：干燥焙烧、混合研磨、压片。有粉末直接压片、粉末稀释压片、用粘结剂衬底和镶边等方法。
①结剂、助磨剂及其他添加剂
当样品本身的粘结力较小时，选择一种合适的粘结剂很重要。粘结剂有固体和液体两种，常用的固体粘结剂有、甲基纤维素、聚乙烯、石蜡、淀粉、滤纸或色谱纸浆、碳酸锂等。用石蜡和苯乙烯的混合物作粘结剂。粘结剂的加入量为样品的10%－50%，过多会影响轻元素的检出限。粘结剂的加入会使分析线强度下降，如果粘结剂颗粒度较大，还会引入颗粒度效应。从吸水性、样品的坚固性、抽真空时间、对仪器污染、制样成功率、成本等方面对几种常用的粘结剂作了比较， 得出低压聚乙烯是一种较理想的粘结剂。
液体粘结剂有、聚乙烯醇(PVA)等。使用液体粘结剂易制成均匀、重复性好的压片，制得的样片更加坚固耐用。
在制备试样和标样过程中，除粘结剂外，还可加入助磨剂、内标元素、稀释剂等，液体粘结剂或助磨剂的大优点是不用称量，但压片后要烘干，加入的量也不可过多，一般100g样品中加入几毫升到十几毫升。固体粘结剂和助磨剂等需要准确称量，并且要混合均匀，因此，制样较麻烦，如果加上清洗粉碎容器的时间，有时甚至比熔融法更长。在大批量的分析中，多采用直接压片或衬底压片法。
②粉碎技术
可用玛瑙或碳化钨研钵人工研磨，现在较多使用机械振动磨或球磨机，效率很高。一般样品均可粉碎至74μm以下(通过200目筛子)，好的可以达到20μm左右。随着粉碎时间的延长，颗粒度减小到一定程度不再变细，如果继续粉碎，反而会发生“团聚”现象。要提高粉碎效率，可以加入固体或液体助磨剂。粉碎时间越长，粉碎容器带来的污染越严重，因此，选择一种合适的粉碎容器很重要。要比较这种污染，可以分析一种很硬的物质(如石英)经粉碎后的污染情况，或对比两种不同粉碎方法的分析结果。在分析痕量元素时，为了提高分析的灵敏度和准确度，这是非常必要的。还有一种污染，是不同粉碎试样间的相互污染。每次粉碎后都要保证容器清洗干净，当样品量较多时，粉碎前可用少量样品预“清洗”两次。
③压片
压样设备常见的有手动或电动液压机，粉末样品装入铝杯或铝环（或塑料环）中，在相应的模具中加压成型。在真空光谱仪中，粉末压片可能会含有空气或其它气体而发生溅射，既破坏了试样表面，又污染了样品室。可先在真空中压制成块，或在氦气光路中测量。为了减少压入片内空气的量,在装样时可轻拍样品，加压时要逐步压力，同时还要保压一定的时间。X荧光光谱仪分析是一种表面分析，尤其对于轻元素，分析时有效层厚度只有几个至十几个μm，表面的污染是致命的问题，同时还要求表面平滑。所以每次压片后都要把模具的表面洗净，隔一段时间还要对塞柱表面(对应于样片被测面)适当抛光。试样在保存过程中也要防止表面污染、表面破损、吸潮、氧化、吸附空气等。好是压片后尽快测量，对于标样、管理样等需长期保存的试样，以粉末状态密封保存较好，需要时临时压片。
④标准样品的制备
X荧光光谱仪分析是一种相对分析，标准样品的制备直接影响分析的准确度。粉末压片法的标样来源主要有三个：用其他方法分析试样；在成分已知的标样中加入某些成分；人工合成。

X射线荧光光谱仪（XRF）具有谱线简单、不破坏样品、操作简便、测定迅速等优点，广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、、考古、难融化物和建材工业等领域。但因为XRF操作简便的优点，使得现在一些“不求甚解”的使用者，只会使用，缺乏对于XRF的基础知识。你得懂XRF的原理么？你知道XRF的分类么？你知道各类XRF有什么优势么？
下面为大家一一解答：
XRF的原理是什么？
X射线荧光（XRF），顾名思义，利用了X射线和荧光技术，当原级X射线照射在待测样品上，产生的次级X射线叫X射线荧光，通过分析荧光的波长和能量对物质进行成分和化学形态的分析。XRF理论上可以测定元素周期表中所有的元素，但是在实际应用中，一般有效的元素测量范围为从铍（Be）到铀（U）的90余种元素。
XRF的分类有哪些？
XRF根据原理不同主要分为两类：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF），其根本区别在于检测方法的不同：
波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF），简称为波散型XRF，其原理是将X射线荧光通过晶体或人工拟晶体将不同能量的谱线分开，然后进行检测。通过谱线的波长进行定性分析，通过能量的强度进行定量分析。
波散型XRF
能量色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），简称能散型XRF，没有复杂的分光系统，X射线荧光直接进入探测器，再经放大器放大成形后进入多道脉冲幅度分析器，将不同能量的脉冲分开并处理，就可以对能量范围很宽的X射线谱同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。
产品保修及售后服务  
对客户方操作人员免费进行培训。
国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）
正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。
产品维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。
免费提供软件升级。
提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。
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