国产手持式矿石分析仪参数

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
x荧光光谱仪由激发源和探测系统构成，可以产生X荧光来检测各元素的特征X射线的强度，从而测定元素含量。台式X荧光光谱仪的正确操作方法如下：
1、仪器采用X光管产生激发源，因此，在不使用时，仪器会自动将X光管的高压断掉，使X光管的电源处理待机状态。此时，仪器将不会产生任何射线，同时大大X光管的寿命。
2、在放置样品时，只要开启防护罩，仪器也自动将X光管停止，不再产生X射线，完全可以保护使用者的人身安全。
3、开启、关闭仪器盖子时，应轻开轻放。
4、设备使用的操作人员，必须要接受安全和操作培训后，才可上机，以确保设备的安全操作与正确使用。
台式X荧光光谱仪的操作人员应该养成正确的设备使用习惯，在使用中严格按照操作规程来对仪器进行操作。

技术指标高灵敏度探测器（分辨率达149Ev），精密的放大电路，
   提高Cd、Pb元素的灵度。
   检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
   样品形状：任意大小，任意不规则形状
   样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
   小样品腔尺寸：300×300×100mm
   大样品腔尺寸：样品尺寸不受限制
   X射线管：靶材/Mo管电压/5～50kV管电流/1～1000μA
   照射直径：2、5、8mm
   探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
   滤光片：八种新型滤光片自动选择
   样品定位：微动载物平台（选配）
   样品观察：130万分辨率彩色CCD摄像机
   微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件
   定量分析：理论Alpha

X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常数。
而根据**理论，X射线可以看成由一种**或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：
E=hν=h C/λ
式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
技术性能及指标:
元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；
元素含量分析范围为1PPm到；
测量时间：100-300秒(可调)；
RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM；  
能量分辨率为129±5电子伏特；
温度适应范围为15℃至30℃；
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；
http://shipukj888.b2b168.com
欢迎来到苏州实谱仪器有限公司网站， 具体地址是江苏省苏州高新区紫金路85号3号楼3楼，老板是孙琳。 主要经营苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为核心,rohs检测仪器，X荧光光谱仪，集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。。 单位注册资金单位注册资金人民币 500 - 1000 万元。 我们公司主要供应手持式光谱仪,rohs检测仪器,X荧光光谱仪等产品，我们的产品货真价实，性能可靠，欢迎电话咨询！