x射线荧光镀层测厚仪产品资料介绍,x射线荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供镀层测厚仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,不同的元素有不同的特征X射线;探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机的应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
技术参数:
元素分析范围:从硫(S)到铀(U)
同时分析几十种以上元素,五层镀层
分析检测限可达2ppm,镀层分析可以0.005um厚度样品
分析含量一般为1ppm到99.9%
镀层厚度一般在50um以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
温度适应范围:15度到30度
X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品
脉冲处理器,数据处理快速准确
手动开关样品腔,操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型高贵时尚
FP软件,无标准样品时亦可测量
镀层测厚仪主要特点:
1、测量数据数字化存储、图形显示,准确、直观,测量精度高。
2、**过三十八种以上的可测量镀层,以及所有导电性镀层。丝状线材和其它异形底材镀层;
3、实时动态显示电位变化曲线、可识别和测量合金层或其它中间层;
4、自动详细分析多层镍等类似镀层的电位差值及厚度,评价其耐腐蚀性能;
5、测量多层镍*三电系统,不用x-y记录仪,仪器更可靠,使用更方便;
6、能分辨不同成份的镀层、评价镀层的均匀性,进而判定镀液的状况、添加剂的性能;
7、监视测量是否准确、详细分析测量数据,选择打印测量曲线和标准格式报告;
8、测量数据便于长期保存、随时调用,可以利用其它软件进行数据处理;
9、操作简便、迅速,*记忆测量种类代码等。仪器可自行检定;
10、软件免费升级,测量镀层种类不断增加。根据用户要求定制软件,或增加特别硬件。
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主要经营苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为核心,rohs检测仪器,X荧光光谱仪,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。。
单位注册资金单位注册资金人民币 500 - 1000 万元。
我们公司主要供应手持式光谱仪,rohs检测仪器,X荧光光谱仪等产品,我们的产品货真价实,性能可靠,欢迎电话咨询!