x射线荧光光谱仪构造

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
录井行业应用案例
l  岩心成份普查：
仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。
l  现时分析
能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟；
l  现场分析
特的减震、**小的真空腔、**稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务；
仪器性能优势：
仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；
测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；
准直器大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试度
封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；
分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；
高阻尼可动支脚防震设计加上**稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；
大面积厚晶体SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试稳定；
X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无外漏，让测试人员安全放心使用；

X荧光光谱仪粉末样品误差主要来源：
（1） 粒度效应 粉末样品粒度效应是指被测量样品中的分析元素的荧光强度变化和样品的粒度变化有关。一般来说，被分析样品的粒度越小，荧光强度越高，轻元素尤甚。原子序数越小，对粒度越敏感；同一元素粒度越小，制样稳定性越好。一般要求粒度小于200 目。
（2） 偏析 偏析是指组分元素在样品中分布的差异。偏析有两种：粒间偏析：粉末颗粒A 和B 之间混合不均匀；元素偏析：元素分布对粒度分布的非匀质性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情况下仍不能解决，可用其它制样手段，如熔融，溶解等。
（3）矿物效应 由于矿物的化学结构或微观晶体形态不同，含量相同的同一元素在不同的矿物中，它们的荧光强度会有很大的差异。所谓的矿物效应不单是针对矿物，在粉末样品的X 荧光光谱仪分析中有着更广泛的含义。

作为一种比较成熟的成分分析手段，X荧光光谱仪分析在冶金、地质、环境、化工、材料等领域中应用非常广泛。X荧光光谱仪分析的对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，如各种矿石，由于直接分析技术目前还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是X荧光光谱仪分析中的重要一部分。

X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。
技术性能及指标:
元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；
元素含量分析范围为1PPm到；
测量时间：100-300秒(可调)；
RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM；  
能量分辨率为129±5电子伏特；
温度适应范围为15℃至30℃；
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；
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