edx1800b 重金属 手持rohs分析仪

rohs检测仪产品详细资料和参数介绍，由苏州实谱信息科技有限公司生产的ROHS检测仪型号EDX1800BS产品技术特点是采用下照式设计，样品腔大，可满足各种形状样品的测试需求。多种准直器和滤光片的电动切换，满足ROHS检测，镀层测厚，合金分析要求。定位测试很方便，人工操作简单易学，美国进口高分辨率Si-pin探测器，大的保证了仪器的检测精度。美国Amtek生产的X光管，使得仪器具备较高的稳定性，实现更高的测试效率。
实谱XRF检测仪技术参数：
元素分析范围：硫（S）—铀（U）
分析检出限：达1ppm
分析含量：为1ppm到99.9999％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围：15℃—30℃
电源：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：161±5eV
外观尺寸：500×410×320mm
样品腔尺寸：400×260×100mm
重量：39Kg

EDX1800BS是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪；对铅（Pb）、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)、溴(Br)、氯(Cl）)等元素有很好的检测下限以及精度。综合应用FP法、网络法、经验系数法、基本参数法分析软件。可完全满足RoHS/WEEE/EN71标准/ELV指令相关管控要求。精心设计的开放性工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
适用于：五金、接插件、电子，电气，连接器，电镀，PCB，塑料，皮革，鞋材等来料的ROHS分析，重金属分析。

XRF元素分析仪一般使用以下三种类型探测器中的一种：“Prop”（比例）计数器、硅PIN二管，以及硅漂移探测器（SDD）。
    比例计数器是一种气体电离装置，通过产生与能量成比例的检测器输出来测量入射的能量。比例计数器有一个相对更好的检测窗口用于捕获荧光X射线。它们工作在中等电压范围，非常适合于测量传统的单层（和一些多层）电镀沉积物。
    值得一提的是，比例计数仪器是这三种类型探测器中价格便宜的，对于不需要高分辨率的简单应用，可以有效看到光谱峰的分离。但是，这类探测器同样存在一些缺点，主要包括高基线噪声和需要频繁的进行校准。
    温度控制对这些设备至关重要，因为探测器需要使用一些对温度变化高度敏感的气体——比任何固态探测器都要敏感得多。充气管还会随着时间的推移而可能发生一定的泄漏。尽管它有这些缺点，但由于检测窗口较大，其通量通常较高，因此它可以检测到大量的光子。所以，虽然应用领域可能有限，但标准偏差较好。
    硅PIN二管提供的光谱分辨率优于比例计数器。这意味着操作人员可以测量更薄的沉积物和更低的元素浓度，并执行一些更复杂的测量，例如合金和厚层样品以及涉及到未识别材料的测量。凭借Peltier效应（TEC/TEM）冷却技术，硅PIN探测器具有更低的噪音，而且分辨率和检测限都更加出色，结果也更加稳定。
    硅漂移探测器通常能够产生比前两者更高的计数率和光谱分辨率，一般值比硅PIN二管探测器高出50％左右。与比例计数器相比，峰值背景比率得到了显著的改进，基线噪声也更低，可以得到更好的检测限和更大的元素测试范围。
    因为有效地消除了背景噪声，所以硅漂移探测器能够非常地测量重叠元素——周期表上的那些“相邻”元素，如镍、铜、锌以及铬和铁（它们之间的信号分离小）。而原来使用的一些技术，如果没有数学计算就无法解决这些重叠元素的测试。今天，由硅PIN和硅漂移探测器提供的分辨率改进就很好地消除了对数学计算或数字滤波的需要。
    与硅PIN一样，硅漂移探测器芯片组也是根据Peltier效应冷却的，不受气候影响，并且不需要氮气储存。所以，这些探测器几乎不需要进行太多的维护。硅漂移探测器是50μm以下薄膜样品以及一些复杂技术领域中应用的薄膜的检测器，包括ENIG、EPIG和ENEPIG（化学镀镍浸金、化学镀钯浸金和化学镀镍钯浸金）等。

ROHS检测仪检测方法
1、阳离子及其价态：
采用英蓝阳离子色谱法、离子选择电法、原子吸收法均可检测，确定阳离子元素价态可采用伏安谱法进行分析。
2、阴离子：
英蓝技术离子色谱法，采用氧弹燃烧、英蓝技术前处理之后，直接进入离子色谱进行分析。
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