x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的到之处在于:通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性,再通过岩性的组合特征分析来判断层位,因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
真空形成条件及高灵敏半导体探测器**对岩心中的元素具有的检出限,为录井平台提供更有意义的具体数据特征;更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求;同时引入了目前的4096道数字多道技术,采用进口**薄铍窗有高激发效率的X射线管,使仪器计数率更高,稳定性更好,适用面更广;
优化了光路结构、软硬件可靠性,真空腔体使之性能更好、更便携;
特的抗震性设计,高保护光路设计使得该仪器通过了第三方机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证;
在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。
引起样品误差的原因:
(1)样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。
(2)样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。
(3)样品的组成不一致 引起吸收、增强效应的差异造成的误差
(4)被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。
(5)制样操作 在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。
3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
(1)固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。
(2)粉末样品 包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。
(3)液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。
产品功能:
1.具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换,即可向配料系统传送分析数据,也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量。
2.具有技术的,快速,安全,性能可靠而实用的样品装卸系统
3.摇臂式设计的样品装卸系统,完善的粉末保护方式,预真空室和限定位置机构,实现高度重现性,无故障,快速稳定。1000W光路设计示意图,
x荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,可以产生X荧光来检测各元素的特征X射线的强度,从而测定元素含量。台式X荧光光谱仪的正确操作方法如下:
1、仪器采用X光管产生激发源,因此,在不使用时,仪器会自动将X光管的高压断掉,使X光管的电源处理待机状态。此时,仪器将不会产生任何射线,同时大大X光管的寿命。
2、在放置样品时,只要开启防护罩,仪器也自动将X光管停止,不再产生X射线,完全可以保护使用者的人身安全。
3、开启、关闭仪器盖子时,应轻开轻放。
4、设备使用的操作人员,必须要接受安全和操作培训后,才可上机,以确保设备的安全操作与正确使用。
台式X荧光光谱仪的操作人员应该养成正确的设备使用习惯,在使用中严格按照操作规程来对仪器进行操作。
配置了真空测试系统,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,对于矿石间各元素进行检测,减少元素间干扰
整体结构化设计,仪器美观大方。
采用美国型的SDD硅飘移探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。
采用*的SES信号处理系统(数字多道),有效提高峰背比,让测量更。
一键式自动测试,使用更简单,更方便,界面更人性化。
七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。
多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品Highest。
优化一体化散热设计,使整机散热性能得到更大提高,确保X射线源的运行安全。
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