苏州手持式xrf测厚仪厂家

x射线荧光镀层测厚仪产品资料介绍，x射线荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供镀层测厚仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和饰加工行业；银行、饰销售和检测机构；电镀行业。
快速、的分析：
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度
简单的元素区分：
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱 
性能优化，可分析的元素范围大：
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性：

精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

仪器配置：
    高压电源：0-50kv
    光管管流：0uA-1000uA
   滤光片：可选择多种定制切换
    探测器：Si-Pin/（SDD可选）
    多道分析器
    样品腔尺寸：310*280*60(mm)
    外部尺寸：380*372*362
    重量：29kg

使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理快速准确
手动开关样品腔，操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型高贵时尚
FP软件，无标准样品时亦可测量
只要客户方的系统存在问题，请即刻我司的售后服务电话由我司技术远程用户解决问题。
当客户方的系统被诊断为系统故障，而无法通过电话／电子邮件方式、远程拨入分析等手段解决时，我们的现场会带上相应的系统工具和软件立即赶赴现场进行紧急维护。我司承诺在接到维修及技术服务要求后立即做出相应，在远程不能解决问题的情况下，我司工程人员将在内赶到现场，48小时解决出现的问题，保证系统恢复正常运行。
在客户系统运行过程中，我司将采取专人定期、不定期方式进行访问交流，调查项目实施和维护情况，听取用户意见，现场解决用户存在问题，现场对系统进行测试和优化，及时发现系统存在的问题或潜在的故障，提前消除隐患，确保系统安全、稳定的运行，并对此系统运行质量评估。
以上客户服务响应方式并不是相互孤立、互不相关的，而是以公司的客户服务中心的组织结构为依托，多种灵活的服务方式相互渗透、紧密结合成为完整统一的客户服务故障响应体系。这种体系经多个大型工作项目的实际运行体验，以被认为是可行的故障响应方式。
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