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x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
X荧光光谱仪分析粉末样品主要有两种方法:
①、熔融法。熔融法是应用较多的一种制样方法,它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点:因样品被熔剂稀释和吸收,使轻元素的测量强度减小;制样复杂,要花费大量时间;成本也较高。
②、粉末压片法
粉末压片法的优点是简单、快速、经济,在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍,也常用于痕量元素的分析。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中,粉末压片是一种应用很广泛的X荧光光谱仪制样法。
技术指标高灵敏度探测器(分辨率达149Ev),精密的放大电路,
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状:任意大小,任意不规则形状
样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸:300×300×100mm
大样品腔尺寸:样品尺寸不受限制
X射线管:靶材/Mo管电压/5~50kV管电流/1~1000μA
照射直径:2、5、8mm
探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片:八种新型滤光片自动选择
样品定位:微动载物平台(选配)
样品观察:130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件
定量分析:理论Alpha
X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用?
(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品,同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。
(2) 铜块作用一是作能量校正,二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。
22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响?
(1) 原子序数较低的元素(或基体)对能量较高的谱线吸收系数较低,因此无限厚度也就大一点
(2) Sb的K线能量较高,能穿透更厚的样品(相对本样品中的其他元素的特征射线),所以饱和厚度也就比其他元素厚。
23.进行合金分析的时候,比如测定硅锰中的si时,用什么进行校正要好些呢?
(1) 用含Si量接近待测合金中Si含量的合金标样校正。
(2) 基体校正这个说法不正确。如果说基体校正的话,我想你所做的试样中只有锰和铁能对其构成基体上的影响。
实际上,你可能是由于线性不好,所以觉得应该做“基体校正”。
原因是:
A、可能是定值还得在准确一些。
B、制样上的偏差比较大。
其中*二条比较主要。那没有办法,自己解决。
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常数。
而根据**理论,X射线可以看成由一种**或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:
E=hν=h C/λ
式中,E为X射线光子的能量,单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
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自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化
演绎得更,使操作更人性,更方便。
软件JPSPEC-FP
针对金属材料元素成份检测而开发(含真空控制功能),对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
应对不同矿产材料可调式数据,测量时间为100-300秒(可调)
操作界面简洁直观,使用方便,*人士操作
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