苏州x荧光光谱仪探测器厂家

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。
大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

X荧光光谱仪测试方法及结果
　　经上述控制方案的设计后，按照《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的要求对各器件切换的精密度进行了检定。精密度以20次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变晶体、准直器和滤波片的位置条件。
　　RSD计算方法如下：
顺序式公式1.jpg(1)
顺序式公式2.jpg(2)
顺序式公式3.jpg(3)
顺序式公式4.jpg(4)
　　式中：
Ii——i次测量的计数率;
T——测量的时间;
n——测量的次数;
顺序式公式5.jpg——n次测量的平均计数;
S——n次测量的标准偏差。
　　连续20次测量中，如有数据**出平均值±3S，实验应重做。
　　通过不做任何变化的计数涨落试验、准直器重现性试验、晶体重现性试验和滤光片重现性试验分别测量时间10s，交替测量20次并记录与涨落试验同条件的CuKα的计数率值。后与国标**的结果和其他同类仪器的性能对比如表1所示。

X 射线管是工作在高电压下的真空二管，其包含有两个电：一个是用于发射电子的灯丝，作为阴；另一个是用于接受电子轰击的靶材，作为阳。两级均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。施加到该灯丝上的电流使其加热至1000摄氏度，因此它能发射出电子。一旦灯丝发射出电子，在灯丝和阳之间施加高电压以加速电子在灯丝与阳之间的移动。加速电子与阳之间的相互作用即可以引起X射线的产生。阳材料中的元素类型决定了发射出来X射线的能量大小。X射线探测器X射线探测器主要是用于测量目标样品发出的X射线荧光，目前市场上已经有多种不同类型的X射线荧光分析探测器可用。能量色散X射线荧光光谱分析技术通常使用的为固态探测器，例如SI-PIN探测器或者硅漂移探测器（SSD）等。每种类型的探测器在不同的应用方面都具有不同的优劣势，因此并不存在好与差之分，只需根据具体需求进行选择即可。分辨率和灵敏度是X射线探测器两个重要的性能参数。一般情况下，分辨率越高意味着探测器可以检测更多能量水平之间的差异；灵敏度越高意味着探测器能够检测到更多的**。计算机处理计算机主要起到管理用户界面和通讯的作用，此外还具有存储、检索和显示数据等功能。X射线荧光光谱仪能够发展为移动的手持式设备，在某种程度是因为计算机功能能够驻留在较小的嵌入式应用处理器上，处理器变小使得整体体积也因此变小。由摩擦效应产生X射线的新型XRF技术摩擦发光是一种通过机械作用（如拉动、撕裂、刮擦、压碎或者不同材料间的摩擦等）而产生光的现象。例如，当敲碎蔗糖晶体时或者剥离胶带时就能观察到这种现象；这种现象从很久之前的古文明时期就被人们所发现。20世纪80年代，人们发现在X射线能量范围内，真空管内的机械作用能够产生光；2008年，一批来自美国加州大学洛杉矶分校的物理学家受到美国*部研究计划局资助，对这一发现进行了进一步的扩大和研究，并了他们能够以一种有效且可重复的方式通过摩擦发光现象产生X射线。研究结果表明，利用摩擦发光产生X射线对于降低X射线产生的复杂性和成本具有非常深远的影响。人们能够通过机械性的将材料挤压到一起再将其拆分以达到摩擦起电效应，进而在目标阳释放掉足够多的电子以产生必要数量的X射线进行X射线荧光分析操作。简言之就是利用一套机械性体系取代高压电源来产生X射线。这项创新能够降低整个X射线荧光光谱仪的成本达50%左右，并且有助于提升手持式X射线荧光光谱仪的使用范围。

录井行业应用案例
l  岩心成份普查：
仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。
l  现时分析
能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟；
l  现场分析
特的减震、**小的真空腔、**稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务；
仪器性能优势：
仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；
测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；
准直器大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试度
封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；
分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；
高阻尼可动支脚防震设计加上**稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；
大面积厚晶体SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试稳定；
X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无外漏，让测试人员安全放心使用；
仪器硬件部分主要配置
 SDD电制冷探测器:              
分辨率：145±5e电子伏特
放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。
X射线激发装置: 
 灯丝电流输出MAX：1mA；
属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时
高压发射装置:
电压输出MAX： 50KV；
电压输出MIN:   5KV，可控调节
自带电压过载保护
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