矿石元素分析仪器参数

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

元素含量分析范围：ppm—（不同元素，分析范围不同）
    同时分析元素：一次性可测几十种元素
    测量时间：30秒-200秒
    探测器能量分辨率为：145±5eV
    管压：5KV-50KV
    管流：50μA-1000μA
    测量对象状态：粉末、固体、液体
    输入电压：AC110V/220V
    环境温度：15℃-30℃
    环境湿度：35%-70%

X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰
整体结构化设计，仪器美观大方。
采用美国型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。
采用*的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更。
一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。
七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。
多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。
优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。
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