苏州x射线衍射荧光光谱仪参数

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等）、包装物料的有元素测试、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。

X荧光光谱仪进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比：Ii=IsWi 式中，Is为Wi=时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。
上述这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。
例如，在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会产生NiKα荧光X射线，NiKα在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生FeKα，测定Ni时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定Fe时，由于荧光增强效应使结果偏高。但是，配置相同的基体又几乎是不可能的。为克服这个问题，目前X荧光光谱仪定量方法一般采用基本参数法。该办法是在考虑各元素之间的吸收和增强效应的基础上，用标样或纯物质计算出元素荧光X射线理论强度，并测其荧光X射线的强度。将实测强度与理论强度比较，求出该元素的灵敏度系数，测未知样品时，先测定试样的荧光X射线强度，根据实测强度和灵敏度系数设定初始浓度值，再由该浓度值计算理论强度。将测定强度与理论强度比较，使两者达到某一预定精度，否则要再次修正，该法要测定和计算试样中所有的元素，并且要考虑这些元素间相互干扰效应，计算十分复杂。 因此，必须依靠计算机进行计算。X荧光光谱仪的定量分析和定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。
事实上，X荧光光谱仪在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线，然后根据2θ角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源，性质等因素，以便综合判断。

X射线荧光分析技术的新突析
利用摩擦效应，将不再需要传统X射线荧光分析中的高压电源和支撑配件。一个电动马达、电池、开关、微控制器以及一个低压连接器即可代替传统高压电源体系中所需要用到的逆变器、变压器和控制系统等。由于不再需要对灯丝进行加热，因此并不存在热循环过程。同样，也不再需要用于连接高压电源和X射线源之间的电缆或者其他连接；除此之外的一些子系统都保持不变。
新突破的另一方面体现在现在能够使用基于安卓系统的智能手机提供计算功能，例如使用Nexus 5智能手机，甚至有使用更为安全的linux操作系统的手持光谱仪比如日立的X-MET8000；新的智能科技加上令人熟悉的用户界面使得它成为了一种更为强大的数据分析工具，同时能为用户提供更为详细的细节信息。彩色触摸屏能够使用户根据需要显示相关的信息；另一个重要因素在于智能手机能够通过WIFI与外界环境进行交流沟通，甚至是根据需求搜寻之前的数据等。新型智能手机技术的使用也有利于创建一个更为成熟的通讯环境，使得用户能够更加安全、可靠的通过云存储技术存储和检索成千上万的检测结果。总结X射线荧光光谱分析技术属于一种能够实现快速分析的无损检测技术，新型、成本更低的X射线光谱仪更容易在被检测材料或者组件的整个生命周期内进行多元测量和验证。利用摩擦效应产生X射线的低成本、移动型X射线荧光光谱仪将会和原位检测或者实验室检测实现互补。对于质量管理部门、冶金实验室、机械工厂、金属加工厂、电焊工以及所有关注金属产品质量的部门或者人员而言，结合了摩擦电效应的X射线荧光分析技术为他们提供了一套成本低廉且结果准确、可靠的“保险”体系。对于航空航天、、汽车以及制造业等领域，利用摩擦电效应的X射线荧光分析技术将会是他们未来长期的选择。

录井行业应用案例
l  岩心成份普查：
仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。
l  现时分析
能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟；
l  现场分析
特的减震、**小的真空腔、**稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务；
仪器性能优势：
仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；
测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；
准直器大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试度
封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；
分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；
高阻尼可动支脚防震设计加上**稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；
大面积厚晶体SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试稳定；
X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无外漏，让测试人员安全放心使用；
光路过滤模块降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；
将准直器与滤光处整合；
准直器自动切换模块
多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。
滤光片自动切换模块
五种滤光片的自由选择和切换。
准直器和滤光片的自由组合模块
多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。
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