矿石金属光谱分析仪参数

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
x荧光光谱仪主要特点
1.检测对象:液体/固体/粉末-固体样品:点射配件-液体样品:样品池配件，适用于8mm瓶,NMR管和MP管 
2.显微镜:可选显微镜配件
3.便携式：-重量轻-远程控制-蓝牙无线数据传输(或USB)-电池可持续运作5小时-数据库可无限扩充 
4.**小的高性能光谱
5.120mW激发光源，功率可变
6.荧光成像可选
7.达到限衍射的成像和光谱
8.数据库可无限扩展

元素含量分析范围：ppm—（不同元素，分析范围不同）
    同时分析元素：一次性可测几十种元素
    测量时间：30秒-200秒
    探测器能量分辨率为：145±5eV
    管压：5KV-50KV
    管流：50μA-1000μA
    测量对象状态：粉末、固体、液体
    输入电压：AC110V/220V
    环境温度：15℃-30℃
    环境湿度：35%-70%

目前有很多方法可以实现X射线荧光光谱分析，因此，为了避免混淆，我们以能量色散X射线荧光光谱分析技术（EDXRF）为例，专注于XRF的细节部分。X射线荧光光谱仪主要包括组成一条信号链的子系统：1、X射线管；2、X射线探测器；3、多通道分析器；4、计算机。如上所述，X射线管也即是产生用于激发检测样品的X射线的地方。X射线管具有两种不同类型的X射线源：放射型和高压型。放射型X射线源通常较为简便、体积较小，成本较低；但是，这种放射源不能被关闭，并且会对环境、使用者等造成一定的危害，因此，对于这种类型的X射线源的使用需要进行注册登记，同时对其运输和处理都具有一定的限制，此外，人们还需要对这种放射源进行定期测试。另一方面，因为高压X射线源不含有污染，并且能够被“关闭”，因此对于这类X射线源的使用则没有那么多的限制。但是，高压X射线源需要用到高压电源以产生并释放出所需的X射线。

X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。
工作曲线自动选择模块
自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化
演绎得更，使操作更人性，更方便。
软件JPSPEC-FP
针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）
操作界面简洁直观，使用方便，*人士操作
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