黄金纯度检测仪产品资料介绍,黄金纯度检测仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供黄金纯度检测仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,不同的元素有不同的特征X射线;探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机的应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
黄金纯度检测仪
分析范围1ppm to 100 %
精度RSD≤0.05% Au≥90%
测试样品的物理状态固体、粉末、液体
感兴趣元素贵金属Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.
基本金属Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.
仪器环境要求
环境温度15° C~30° C
相对湿度35%一70%
电源要求AC 220V土5V, 50/60HZ
分析软件FP定性定量分析软件
外部尺寸380*372*362 ( mm)
重量29Kg
应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
X荧光镀层测厚仪分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可***定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
X荧光镀层测厚仪性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案务。
X荧光镀层测厚仪特点-简易:
对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案务。
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单位注册资金单位注册资金人民币 500 - 1000 万元。
我们公司主要供应手持式光谱仪,rohs检测仪器,X荧光光谱仪等产品,我们的产品货真价实,性能可靠,欢迎电话咨询!