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    企业信息

    苏州实谱仪器有限公司

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  • 公司认证: 营业执照已认证
  • 企业性质:私营企业
    成立时间:2015
  • 公司地址: 江苏省 苏州 高新区紫金路85号3号楼3楼
  • 姓名: 孙经理
  • 认证: 手机未认证 身份证未认证 微信已绑定

    x光荧光分析仪批发

  • 所属行业:仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
  • 发布日期:2022-07-28
  • 阅读量:286
  • 价格:250000.00 元/台 起
  • 产品规格:不限
  • 产品数量:9999.00 台
  • 包装说明:不限
  • 发货地址:江苏苏州虎丘区  
  • 关键词:x光荧光分析仪批发

    x光荧光分析仪批发详细内容

    x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
    x荧光光谱仪主要特点
    1.检测对象:液体/固体/粉末-固体样品:点射配件-液体样品:样品池配件,适用于8mm瓶,NMR管和MP管 
    2.显微镜:可选显微镜配件
    3.便携式:-重量轻-远程控制-蓝牙无线数据传输(或USB)-电池可持续运作5小时-数据库可无限扩充 
    4.**小的高性能光谱
    5.120mW激发光源,功率可变
    6.荧光成像可选
    7.达到限衍射的成像和光谱
    8.数据库可无限扩展
    x光荧光分析仪批发
    X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。
    大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
    x光荧光分析仪批发
    x荧光光谱仪使用中常见的问题及注意事项
    1、过滤时有时会出现流动相漏液。可能的原因是滤膜放置不正确和接头有点错位,导致流动相从缝隙中漏出。
     注意:操作时,应先向滤瓶内倒入少量流动相,观察是否漏液并开始过滤,若未漏液,再向滤瓶中添加流动相。
    2、超声时,瓶外液体的液面应**瓶内流动相的液面,否则流动相内的气体可能无法排出液体,气体仍然残留在流动相内,以致开机排气时无气泡排出。
    3、开机排气结束后,应先将流动相流量调小,再关闭排气阀,否则会导致柱压瞬间升高**过压力上限,致使泵停止工作。
    4、反相LC液相色谱仪冲洗柱子时,应尽量避免使用纯水流动相冲洗柱子,因为水性强,会损害色谱柱,导致柱效下降。
    5、冲洗色谱柱时,还可以不同比例的混合流动相冲洗色谱柱,以冲出不同性的残留物质,但还是要用纯**流动相冲洗色谱柱一段时间。
    6、在实验过程中会出现压力**过上限或压力偏高,有可能是柱内有残留物质未被冲出,此时应用较大流速的**流动相充分冲洗色谱柱。若条件允许,也可采用梯度洗脱的方式冲洗色谱柱。压力过高也有可能是滤头堵塞,此时可将滤头取出放到中超声。
    7、若隔天或更长时间不使用LC液相色谱仪,应将两流动相瓶中均倒入纯的**流动相(因为水流动相长时间不用会滋生,污染滤头和色谱柱,导致下次开机使用时会出现鬼峰,基线不稳)。
    8、进样时所进样品的体积应不小于色谱柱的容积,且进样时器里的气泡一定要排出,不可将气泡打进色谱柱。
    x光荧光分析仪批发
    X荧光光谱仪进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比:Ii=IsWi 式中,Is为Wi=时,该元素的荧光X射线的强度。根据上式,可以采用标准曲线法,增量法,内标法等进行定量分析。
    上述这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似,否则试样的基体效应或共存元素的影响,会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所成的影响。化学组成的变化,会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。
    例如,在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时,由于一次X射线的激发会产生NiKα荧光X射线,NiKα在样品中可能被Fe吸收,使Fe激发产生FeKα,测定Ni时,因为Fe的吸收效应使结果偏低,测定Fe时,由于荧光增强效应使结果偏高。但是,配置相同的基体又几乎是不可能的。为克服这个问题,目前X荧光光谱仪定量方法一般采用基本参数法。该办法是在考虑各元素之间的吸收和增强效应的基础上,用标样或纯物质计算出元素荧光X射线理论强度,并测其荧光X射线的强度。将实测强度与理论强度比较,求出该元素的灵敏度系数,测未知样品时,先测定试样的荧光X射线强度,根据实测强度和灵敏度系数设定初始浓度值,再由该浓度值计算理论强度。将测定强度与理论强度比较,使两者达到某一预定精度,否则要再次修正,该法要测定和计算试样中所有的元素,并且要考虑这些元素间相互干扰效应,计算十分复杂。 因此,必须依靠计算机进行计算。X荧光光谱仪的定量分析和定性分析
    不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长,因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分。
    事实上,X荧光光谱仪在定性分析时,可以靠计算机自动识别谱线,给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线,然后根据2θ角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的来源,性质等因素,以便综合判断。
    可自动选择适合的校准曲线,测量更方便,更准确
    中英文界面自动切换,并具有第三方语言订制功能
    自动校准仪器
    自带样品材质定性分析,防止手动用户选择错误曲线
    多种报告形式打印
    可同时显示多个光谱图
    仪器测试参数及真空度实时显示,所有掌控一目了然
    的机芯温度技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本
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