x荧光光谱测金仪规格

x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现**高计数率，保证采集有效计数率**过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换*关闭高压，提高测试效率与测试精度

X射线荧光分析技术的新突析
利用摩擦效应，将不再需要传统X射线荧光分析中的高压电源和支撑配件。一个电动马达、电池、开关、微控制器以及一个低压连接器即可代替传统高压电源体系中所需要用到的逆变器、变压器和控制系统等。由于不再需要对灯丝进行加热，因此并不存在热循环过程。同样，也不再需要用于连接高压电源和X射线源之间的电缆或者其他连接；除此之外的一些子系统都保持不变。
新突破的另一方面体现在现在能够使用基于安卓系统的智能手机提供计算功能，例如使用Nexus 5智能手机，甚至有使用更为安全的linux操作系统的手持光谱仪比如日立的X-MET8000；新的智能科技加上令人熟悉的用户界面使得它成为了一种更为强大的数据分析工具，同时能为用户提供更为详细的细节信息。彩色触摸屏能够使用户根据需要显示相关的信息；另一个重要因素在于智能手机能够通过WIFI与外界环境进行交流沟通，甚至是根据需求搜寻之前的数据等。新型智能手机技术的使用也有利于创建一个更为成熟的通讯环境，使得用户能够更加安全、可靠的通过云存储技术存储和检索成千上万的检测结果。总结X射线荧光光谱分析技术属于一种能够实现快速分析的无损检测技术，新型、成本更低的X射线光谱仪更容易在被检测材料或者组件的整个生命周期内进行多元测量和验证。利用摩擦效应产生X射线的低成本、移动型X射线荧光光谱仪将会和原位检测或者实验室检测实现互补。对于质量管理部门、冶金实验室、机械工厂、金属加工厂、电焊工以及所有关注金属产品质量的部门或者人员而言，结合了摩擦电效应的X射线荧光分析技术为他们提供了一套成本低廉且结果准确、可靠的“保险”体系。对于航空航天、、汽车以及制造业等领域，利用摩擦电效应的X射线荧光分析技术将会是他们未来长期的选择。

技术指标高灵敏度探测器（分辨率达149Ev），精密的放大电路，
   提高Cd、Pb元素的灵度。
   检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
   样品形状：任意大小，任意不规则形状
   样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
   小样品腔尺寸：300×300×100mm
   大样品腔尺寸：样品尺寸不受限制
   X射线管：靶材/Mo管电压/5～50kV管电流/1～1000μA
   照射直径：2、5、8mm
   探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
   滤光片：八种新型滤光片自动选择
   样品定位：微动载物平台（选配）
   样品观察：130万分辨率彩色CCD摄像机
   微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件
   定量分析：理论Alpha

X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
产品保修及售后服务  
对客户方操作人员免费进行培训。
国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）
正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。
产品维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。
免费提供软件升级。
提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。
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