企业信息

    苏州实谱仪器有限公司

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  • 公司认证: 营业执照已认证
  • 企业性质:私营企业
    成立时间:2015
  • 公司地址: 江苏省 苏州 高新区紫金路85号3号楼3楼
  • 姓名: 孙经理
  • 认证: 手机未认证 身份证未认证 微信已绑定

    手持x荧光金属元素分析仪生产厂家

  • 所属行业:仪器仪表 分析仪器 元素分析仪器
  • 发布日期:2022-12-26
  • 阅读量:39
  • 价格:95000.00 元/台 起
  • 产品规格:不限
  • 产品数量:10.00 台
  • 包装说明:不限
  • 发货地址:江苏苏州虎丘区  
  • 关键词:手持x荧光金属元素分析仪生产厂家

    手持x荧光金属元素分析仪生产厂家详细内容

    手持式合金分析仪
    应用领域◆废旧金属回收◆PMI鉴别◆生产制造QA/QC控制◆流体加速腐蚀◆贵金属分析
    产品特点
    性能
    精度高,接近实验室级的分析水平,可直观显示合号和元素百分比含量(某些元素可显示到小数点后三位)及ppm含量
    速度快,操作简单 “开机启动—瞄准测试—察看结果”,整个分析过程仅需数秒便可完成,合号鉴别只需1~2秒钟,操作简单,即使非技术人员也可轻松掌握
    在购买便携式光谱仪的时候到底要注意哪些问题呢?
    1、稳定性:分析仪器重要的就是稳定性,在每次分析前都要进标样,所以检测结果一般与真值偏差都不打,关键是同类样品是否在每次分析出来之后结果是否一致,如果忽高忽低你知道那个样品是合格的
    2、分析速度:如果是扫描型的,速度要快
    3、波长范围:是否能覆盖你所要检测所有元素的谱线范围
    4、光学分辨率:理论上来说分辨率越高越好,当然还看你的样品情况
    5、故障率:这个不用多说,故障率自然越低越好6、售后服务:机器用久了都会出现各种问题,售后服务的好坏也很重要。
    手持x荧光金属元素分析仪生产厂家
    合金分析仪技术性能
    1. 真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的百分比含量。
    2. 只需将合金分析仪直接接触待测合金表面,无须等待和花费时间即可现场确定合金等级。
    3. 被检测的样品的对象可以是合金块、合金片、合金线、合金渣、合金粉。
    4. 不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认。
    5. 手式可延伸的探头设计能对管道内部、焊缝,等位置进行检测。
    6. 可检测温度高达450℃的高温材料。
    7. 可现场在库中添加,编辑,合号。
    8. **快的分析速度,仅需2秒钟就可识别合金元素。
    9. 用户化windowsCE6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成,用户化windows CE仅保留有基本的windows与Delta系统有关的性能,使程序更具灵活性。
    10. *借助电脑,可在现场随意,查看,放大相关元素的光谱图。
    11. 防尘,防雾,防水:一体机设计,软胶与塑胶部件凸槽凹槽构造设计,使仪器具有很好的三防性能,可承受恶劣的工作环境,大雾,下雨,尘土飞扬工装场地也能正常工作。
    12 更高的检测精度,多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测精度。
    13 **大的图标显示,菜单式驱动,微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。
    14. 电磁干扰被屏蔽,即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。
    手持x荧光金属元素分析仪生产厂家
    手持式光谱分析仪
    产品优势:
    1、一键式开机并检测。
    2、一体式供电,解决了电脑缺电造成测试数据丢失的风险。
    3、只需开机一次。(**长待机*关闭电源,无检测操作时自动待机,同时光管及探测器断电停止工作)
    4、自动关机(自定义长时间未进行检测操作)
    手持x荧光金属元素分析仪生产厂家
    手持式光谱仪系统误差的来源有:
    (1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。
    (2)标样和试样的物理性能不完全相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。
    (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时,测出的数据会有所差别。
    (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。
    (5)要消除系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,就需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
    手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器,当能量**原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子,击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特息。
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